成品测试

上海华岭提供先进的成品测试解决方案，通过自主OCR系统，可实现测试数据与成品对应的溯源功能，测试平台来自国际先进供应商，测试能力涵盖3 mm x 3 mm~70 mm x 70 mm的产品，涵盖以下封装类型：QFP、LQFP、TQFP、QFN、DFN、BGA、LGA、CSP、SIP、POP，测试温度-55℃~125℃

: 主要性能

定制化设备及装置、OCR mark自动识别

亿门级可编程器件、CPU三温自动测试

BGA、QFP、QFN等先进封装

-55℃ 到+125℃宽温高可靠检测

测试平台

数字/混合/SOC

泰瑞达 UltraFLEX
泰瑞达 J750HD (LitePoint)
泰瑞达 J750EX
泰瑞达 J750
爱德万 V93000
爱德万 T2000
悦芯 T800

存储器

泰瑞达 Magnum2
爱德万T5830
Credence P Kalos II

汽车电子、电源产品

泰瑞达 ETS88
AccoTEST STS8200
Verigy V50
TRI TR6800
JUNO DTS1000

CIS/MEMS

泰瑞达 IP750
自研设备

机械手系统

EPSON NS8080SH（~125℃）
四方 CR3601C（-55℃~150℃）
四方 CR3601D（-55℃~150℃）
四方 CR7300（~150℃）
中艺 CT580（~150℃）

系统级测试

: 随着半导体在汽车、工业、医疗等各种对安全极为敏感的领域得到日益广泛的应用，同时复杂的新技术增加了SoC、SiP和软件的复杂性，这些趋势引进了更多潜在故障和新故障模型，通过系统级测试可以满足故障捕获的目的。

老化筛选

上海华岭提供各种封装形式产品的老化服务，包括存储器、CPU、FPGA和其他大规模集成电路产品。根据客户需要，协同华岭合作伙伴，可提供完整JEDEC标准可靠性筛选服务。

主要性能

寿命测试

早期失效等级测试

高/低温操作生命期试验

环境测试

预处理测试

加速式温湿度及偏压测试

高加速温湿度及偏压测试

高低温循环试验

高低温冲击试验
耐久性测试 周期耐久性测试 数据保持力测试

技术与服务

成品测试

数字/混合/SOC

存储器

汽车电子、电源产品

CIS/MEMS

机械手系统

系统级测试

老化筛选

主要性能

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